LVS-500系列低壓浪涌測試儀

更新時間：2025-11-06

產(chǎn)品型號：

產(chǎn)品報價：

產(chǎn)品特點：LVS-500系列低壓浪涌測試儀，輸出波形符合IEC 61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE標(biāo)準(zhǔn)中描述的浪涌波形，旨在測試設(shè)備在晶圓和封裝級別上的浪涌抗擾性。通過脈沖發(fā)生器，可以輕松確定浪涌應(yīng)力下的EOS故障閾值。

LVS-500系列低壓浪涌測試儀的詳細(xì)資料：

ESDEMC Technology LLC 由 Wei Huang 于 2011 年 3 月在美國密蘇里州羅拉創(chuàng)立。ESDEMC 開發(fā) ESD 和 EMC 解決方案。公司致力于提供創(chuàng)新、先進(jìn)、高質(zhì)量和具有成本效益的解決方案以及一般咨詢、測試服務(wù)和定制項目。產(chǎn)品包括充電設(shè)備模型 (CDM) 系統(tǒng)、電纜放電事件 (CDE) 系統(tǒng)、ESD 模擬器、脈沖衰減器、電流探頭、用于射頻發(fā)射/免疫的 TEM 電池、高壓直流電源、定制的高壓/射頻設(shè)計。ESDEMC Technology 自 2012 年以來一直是 ESD 協(xié)會的企業(yè)會員。

LVS-500系列低壓浪涌測試儀輸出波形符合IEC 61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE標(biāo)準(zhǔn)中描述的浪涌波形，旨在測試設(shè)備在晶圓和封裝級別上的浪涌抗擾性。通過脈沖發(fā)生器，可以輕松確定浪涌應(yīng)力下的EOS故障閾值。

脈沖源設(shè)計和脈沖源傳輸方法確保波形性能直接作用于被測試設(shè)備，而不是在發(fā)生器輸出端。可以捕捉并分析每個浪涌事件的電流波形，自動化的脈沖故障測量設(shè)置也可幫助完成此過程。此外，還可以捕捉電壓波形，并用于確定保護結(jié)構(gòu)的開通電平。這些電壓波形還可以作為故障判定的依據(jù)，因為漏電特性在脈沖事件后會發(fā)生變化。

產(chǎn)品特點

● 波形從最小值到最大值干凈且線性

● 隔離的浪涌脈沖電路

● 軟件控制自動測量

● 自動故障檢測，包括直流點檢和靜態(tài)IV測試

產(chǎn)品應(yīng)用

● 測試電源、驅(qū)動PCB、通信系統(tǒng)、LCD顯示面板的浪涌脈沖抗干擾性，符合8/20μs和10/1000μs規(guī)范

● 測試晶圓、封裝和PCB的浪涌/靜電放電（ESD）抗干擾性

LVS-500系列低壓浪涌測試儀產(chǎn)品規(guī)格

參數(shù)	LVS-500	LVS-1000	LVS-1500	LVS-2000	LVS-500	LVS-1000	LVS-1500	LVS-2000	單位
	-8/20				-10/1000
輸出電壓@開路負(fù)載	1-500	1-1000	1-1500	1-2000	1-500	1-1000	1-1500	1-2000	V
輸出電流@開路負(fù)載	0.5-250	0.5-500	0.5-750	0.5-1000	0.1-50	0.1-100	0.1-150	0.1-200	A
輸出精度	± 5 % ± 0.1 V
輸出電阻	2 ± 5%	10 ± 10%							Ω
短路電流前沿時間	8 ± 30%	10 (+0, -5)							μs
短路電流半峰值時間	20 ± 20%	1000 ± 20%							μs
開路電壓前沿時間	1.2 ± 30%	10 (+0, -5)							μs
開路電壓分峰值時間	50 ± 20%	1000 (+1000, -0)							μs
尺寸	347 X 300 X 145
重量	5	6	8	10	5	6	8	10	kg